Chotest Sj5760 pirkti naudotą (1)
Rikiuoti rezultatus
- Žemiausia kaina Aukščiausia kaina
- Naujausi skelbimai Seniausi skelbimai
- Trumpiausias atstumas Didžiausias atstumas
- Naujausi metai gamybos Seniausi gamybos metai
- Naujausias atnaujinimas Seniausias atnaujinimas
- Gamintojai nuo A iki Z Gamintojas nuo Z iki A
- Reikšmė
- Žemiausia kaina
- Kaina
- Aukščiausia kaina
- Kaina
- Naujausi skelbimai
- Įkėlimo data
- Seniausi skelbimai
- Įkėlimo data
- Trumpiausias atstumas
- atstumas
- Didžiausias atstumas
- atstumas
- Naujausi metai gamybos
- Gamybos metai
- Seniausi gamybos metai
- Gamybos metai
- Naujausias atnaujinimas
- Atnaujinimas
- Seniausias atnaujinimas
- Atnaujinimas
- Gamintojai nuo A iki Z
- Gamintojas
- Gamintojas nuo Z iki A
- Gamintojas
- Pavadinimas nuo A iki Z
- Pavadinimas
- Pavadinimas nuo Z iki A
- Pavadinimas
- Modelis nuo A iki Z
- modelis
- Modelis nuo Z iki A
- modelis
- Žemiausia nuoroda
- nuoroda
- Aukščiausia nuoroda
- nuoroda
- Trumpiausias veikimo laikas
- Veikimo laikas
- Ilgiausia veikimo trukmė
- Veikimo laikas
- reikšmė
- reikšmė
Mažas skelbimas
Leonberg
1 237 km
Kontūrų ir paviršiaus matavimo sistema
ChotestSJ5760
Skambinti
Būklė: beveik kaip naujas (parodų įrenginys), Gamybos metai: 2024, veikimo valandos: 15 h, Precision Profile Measuring Instrument | Excellent Condition | Ready for Immediate Use
For sale is a Chotest SJ-5760P, a high-precision contour measuring device for geometric profile analysis in quality management, toolmaking, mechanical engineering, and research. This unit delivers precise measurements with a large range of motion and a stable granite base.
⸻
Condition
• Used, technically inspected
• Fully functional
• Very well-maintained condition
⸻
Technical Highlights – Chotest SJ-5760P
Travel Ranges
• X-axis: 0–200 mm
• Z-axis: 0–450 mm
• Device dimensions: 800 × 450 × 1100 mm
• Weight: 220 kg
⸻
Profile Measurement (SJ-5760P)
• Z1 measuring range: ±25 mm
• Resolution: 0.001 µm
• Measuring direction: Top / Down
• Measuring speed: 0.05–5 mm/s
• Positioning speed: X/Z up to 20 mm/s
• Measuring force: 10–150 mN, adjustable
• Guideway deviation: ≤1 µm / 200 mm
Accuracy
• X-display error: ±(0.5 + 0.015L) µm
Lasdpfx Ajx Db Stof Hsf
• Z1 display error: ±(0.5 + 0.05H) µm
• Distance: ±(0.8 + 0.02L) µm
• Radius: ≤(1 + R/15) µm
• Angle: ≤±45’’
⸻
Special Features
• Ideal for high-precision contour and profile measurements
• Extremely high vertical resolution (0.001 µm)
• Very stable granite base for vibration-free measuring
• Large travel ranges for versatile component geometries
• User-friendly and reliable measuring technology
• Suitable for micron-level form measurements in laboratory and production use
Palengviname jums paiešką: "chotest sj5760"
Jūs iš karto ir nemokamai gausite naujus pasiūlymus el. paštu.
Galite bet kada paprastai nutraukti paieškos užduotį.





